x射線(xiàn)熒光光譜儀的原理簡(jiǎn)述了解一下呢

點(diǎn)擊次數：2443 更新時(shí)間：2021-01-08

熒光光譜儀又稱(chēng)熒光分光光度計，是一種定性、定量分析的儀器。通過(guò)熒光光譜儀的檢測，可以獲得物質(zhì)的激發(fā)光譜、發(fā)射光譜、量子產(chǎn)率、熒光強度、熒光壽命、斯托克斯位移、熒光偏振與去偏振特性，以及熒光的淬滅方面的信息。

波長(cháng)色散X射線(xiàn)熒光光譜儀使用分析晶體分辨待測元素的分析譜線(xiàn)，根據Bragg定律，通過(guò)測定角度，即可獲得待測元素的譜線(xiàn)波長(cháng)：

nλ=2dsinaθ (n=1,2,3…)

公式中，λ為分析譜線(xiàn)波長(cháng)；d為晶體的晶格間距；θ為衍射角；n為衍射級次。利用測角儀可以測得分析譜線(xiàn)的衍射角，利用上式可以計算相應被分析元素的波長(cháng)，從而獲得待測元素的特征信息。

能量色散射線(xiàn)熒光光譜儀則采用能量探測器，通過(guò)測定由探測器收集到的電荷量，直接獲得被測元素發(fā)出的特征射線(xiàn)能量：

Q=kE

式中，K為入射射線(xiàn)的光子能量；Q為探測器產(chǎn)生的相應電荷量；k為不同類(lèi)型能量探測器的響應參數。電荷量與入射射線(xiàn)能量成正比，故通過(guò)測定電荷量可得到待測元素的特征信息。

待測元素的特征譜線(xiàn)需要采用一定的激發(fā)源才能獲得。目前常規采用的激發(fā)源主要有射線(xiàn)光管和同位素激發(fā)源等。

為獲得樣品的定性和定量信息，除光譜儀外，還必須采用一定的樣品制備技術(shù)，并對獲得的強度進(jìn)行相關(guān)的譜分析和數據處理。

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